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KETT凱特株式會社ケツト科學研究所
HITACHI日立電子顯微鏡（SEM/TEM/STEM）（場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）、（SEM）HITACHI日立電子顯微鏡（SEM/TEM/STEHITACHI日立M）（HITACHI日立場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）、（SEM） 電子顯微鏡（SEM/TEM/STEM）（HITACHI日立掃描電鏡（FE-SEM）、掃描電子顯微鏡（SEM）、臺式顯微鏡、透射電子顯微鏡（TEM/STEM））。
HITACHI日立高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series
日本HORIBA激光粒度儀、檢測器、分析儀等全系列產(chǎn)品。日本HORIBA激光粒度儀、HORIBA分析儀、HORIBA檢測器、HORIBA分析儀等全系列產(chǎn)品。
日本HORIBA多激光納米顆粒追蹤分析儀——ViewSizer 3000
日本TORAY東麗株式會社:半導體氧氣濃度計/氣體分析儀,氧氣分析儀進口東麗/TORAY氧氣濃度分析儀RF-400 TORAY東麗 LC-450A，氧含量分析儀 日本TORAY東麗 濃度分析儀LC-750L(D)/PC-120 TNC-200、TN-200、LC-450F、LF-200、LC-450F、酸素濃度計 LC-450F、LC-450F、LF-200、高精細型 液體測定用 DFL-1 日本TORAY東麗LC-750L中/低濃度測定型 中/低濃度測定型 LC-750L氧氣濃度計RF-400是采用氧化錯固體電解質電池的固...
日本KURABO液體成分倉紡濃度計中國售后中心自 1990 年以來，我們作為紅外液體成分濃度計的先*開始了我們的業(yè)務，我們利用我們豐富的專業(yè)知識和技術，通過響應質量和化學濃度的需求來應對不斷發(fā)展的半導體器件制造工藝。支持管理。我們將通過靈活應對工藝和特殊化學品，以及通過高精度化學濃度測量“提前應對測量需求”，繼續(xù)為優(yōu)化制造工藝做出貢獻。
日本MIKASA米卡薩株式會社：勻膠機，顯影、涂布機、旋涂機、光刻機
ESD防靜電設備是由除靜棒、離子風槍、離子風咀、離子風蛇、離子風機、離子風幕等一系列的設備組成，它們可產(chǎn)生大量的帶有正負電荷的氣流，可以將物體上所帶有的電荷中和掉。當物體表面所帶為負電荷時，它們就會吸引氣流中正電荷，當物體表面所帶為正電荷時，它們就會吸引氣流中的負電荷，從而使物體表面上的靜電被中和掉，達到預防靜電產(chǎn)生的目的。
靜電是一種客觀的自然現(xiàn)象，產(chǎn)生的方式多種，如接觸、摩擦、剝離等。靜電防護技術，如電子工業(yè)、半導體、石油工業(yè)、兵器工業(yè)、紡織工業(yè)、橡膠工業(yè)以及興航與**領域的靜電危害，尋求減少靜電造成的損失 。